Sztywna płyta VSS

Badanie przeprowadzone przy użyciu płyty VSS pozwala na określenie modułu odkształcenia pierwotnego ( Ev1 ), wtórnego modułu odkształcenia ( Ev2 ), a także wskaźnika odkształcenia I0 (Stosunku E2/E1) nawierzchni podatnych i podłoża drogowego in-situ. Płyta VSS umożliwia określenie geotechnicznych parametrów odkształceniowych i wytrzymałościowych podłoża gruntowego in-situ. Badanie przeprowadzane przy pomocy aparatu VSS polega na pomiarze … Czytaj dalej

Lekka płyta dynamiczna

W wyniku pomiarów przeprowadzonych lekką płytą dynamiczną określamy dynamiczny moduł odkształcenia badanej warstwy ( Evd ). Z modułu odkształcenia (Ev) w prosty sposób otrzymujemy wskaźnik zagęszczenia badanego gruntu (IS). Płyta dynamiczna o średnicy 30 cm pozwala na określenie odkształcenia i wytrzymałości badanej warstwy do głębokości 0,5 metra. /p> Urządzenie tego typu umożliwia szybkie i sprawne … Czytaj dalej

Lekka sonda dynamiczna SD-10

Sonda SD-10 służy do badania stopnia zagęszczenia gruntu do głębokości 10 metrów. Sondowanie polega na wbijaniu w grunt żerdzi zakończonej końcówką przy użyciu ściśle zwymiarowanego młota spadającego ze stałej wysokości. Podczas badania określamy ilość uderzeń młota (Nk ) potrzebną do zagłębienia żerdzi z końcówką o 0,1m.

Płyta sztywna VSS

Płyta VSS 100 kN przeznaczona jest do badania nośności i zagęszczania podłoża gruntowego. Badanie aparatem VSS pozwala na określenie modułu odkształcenia pierwotnego ( E1 , Ev1 ), wtórnego modułu odkształcenia ( E2 , Ev2 ) z a także wskaźnika odkształcenia I0 ( Stosunku E2/E1 ).